亞納米級表面形貌測量光學(xué)輪廓儀價格看客戶的需求配置，拒絕低效復(fù)檢！用SuperViewW光學(xué)輪廓儀的“模板復(fù)用"功能實現(xiàn)產(chǎn)線降本增效！

在追求效率的生產(chǎn)線上，檢測環(huán)節(jié)的耗時往往是隱形成本的重災(zāi)區(qū)。很多企業(yè)不僅面臨人工操作誤差，還要應(yīng)對繁瑣的參數(shù)設(shè)置。引入白光干涉儀，將為您的企業(yè)帶來顯著的投資回報（ROI）：

1.批量分析效率提升8倍：設(shè)備支持“模板復(fù)用法"，針對同類型產(chǎn)品，只需將測量參數(shù)和分析步驟保存為模板，后續(xù)檢測直接調(diào)用，效率提升8倍以上 。

2.一鍵啟動，無人值守：通過編程測量法，預(yù)先配置全流程指令（采集、處理、分析），實現(xiàn)生產(chǎn)線上的“一鍵啟動"高效檢測，大幅降低人力投入 。

3.減少廢品損耗：臺階高度測量重復(fù)性可達(dá)0.08%~0.1% ，高精度的測量意味著更少的誤判和返工，直接降低了高價值樣品的報廢率。

SuperViewW光學(xué)輪廓儀單一掃描模式覆蓋超光滑到粗糙、鏡面到全透明/黑色材質(zhì)，10mm Z向掃描范圍搭配方形、圓形、螺旋式自動拼接功能，支持?jǐn)?shù)千張圖像無縫拼接。無論是半導(dǎo)體研磨減薄件、3C金屬殼模具，還是光學(xué)納米臺階元件，均可精準(zhǔn)測量，滿足多品類生產(chǎn)企業(yè)一臺設(shè)備搞定全場景的需求。

用更智能的工具，換取更高的產(chǎn)出效益，亞納米級表面形貌測量光學(xué)輪廓儀價格實惠，是您產(chǎn)線升級的明智投資。如需獲取產(chǎn)品演示視頻、行業(yè)定制化方案或免費樣品測試，歡迎隨時聯(lián)系。

（注：產(chǎn)品參數(shù)可能根據(jù)技術(shù)升級實時更新，具體以新配置為準(zhǔn)，詳情可咨詢客服獲取完整資料。）